「AI 解題活動」AOI 瑕疵分類
由工研院電光所提供電子產品影像資料，解題者建置瑕疵分類判讀的AI模型，藉以協助相關產業提升產品品質。
簡介
自動光學檢查（簡稱AOI）[1]，為高速高精度光學影像檢測系統，運用機器視覺做為檢測標準技術，可改良傳統上以人力使用光學儀器進行檢測的缺點，應用層面包括從高科技產業之研發、製造品管，以至國防、民生、醫療、環保、電力…等領域。工研院電光所投入軟性電子顯示器之研發多年，在試量產過程中，希望藉由AOI 技術提升生產品質。本次邀請各界資料科學家共襄盛舉，針對所提供的 AOI 影像資料，來判讀瑕疵的分類，藉以提升透過數據科學來加強 AOI 判讀之效能。
本議題為開放式議題，提供持續性長期解題，並設有里程碑獎勵，Baseline為前階段的最佳成績，PrivateLeaderboard將不定期更新。
Reference
[1] https://zh.wikipedia.org/wiki/自動光學檢查
活動時間
本次里程碑設於 2019/09/30 23:59:59，其 Private Leaderboard於 2019/10/01 00:00:00公布，以此成績做為頒獎依據。
Private Leaderboard在里程碑前不定期更新，本階段（6/6-9/30）為每兩週更新一次。
競賽獎項
里程碑當日23:59:59前上傳之最終成績，在Private Leaderboard超過Baseline（0.998521）的前三名，將頒發以下獎項：
- 第一名 hicloud 10 萬點優惠點數
- 第二名 hicloud 10 萬點優惠點數
- 第三名 hicloud 10 萬點優惠點數
超過baseline的解題者將可獲頒獎狀乙張本獎項由中華電信提供
- 備註1：hicloud 優惠點數可折抵服務費用，折抵完後自動開始依牌價7折計費。
- 備註2：中華電信保有資格審核、優惠內容修改與中止權利。
- 備註3：超過Baseline者，模型通過驗證後，始得發放獎品及獎狀。
點數試算範例請參考： https://aidea-web.tw/computing
評估標準
參與本議題研究者在提供瑕疵預測類別後，系統後台將定期批次處理以計算分數，評估方式採用計算與實際值的相符正確率（Accuracy）。公式如下：
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聯絡資訊：
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- 主辦單位電話 : 0928048780
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